DSP片上Flash測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3545 K
標(biāo)簽： 片上FLASH 擦寫耐久 數(shù)據(jù)保持
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文檔介紹：在DSP芯片的可靠性篩選考核試驗(yàn)中，片上Flash擦寫耐久和數(shù)據(jù)保持測試是最重要的試驗(yàn)之一。針對內(nèi)建自測試和外部自動化機(jī)臺測試的局限性，提出了一種DSP片上Flash測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方法。在分析了Flash故障類型和測試算法的基礎(chǔ)上，給出了硬件原理圖和軟件實(shí)現(xiàn)流程，并搭建了實(shí)物平臺進(jìn)行效果評估。測試結(jié)果表明：該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)多工位DSP片上Flash自動化測試，無需人工參與。同時(shí)工作狀態(tài)可實(shí)時(shí)顯示，測試過程中的數(shù)據(jù)和結(jié)果自動保存在外部存儲器中，便于后期進(jìn)行測試結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析。
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